主要用于設(shè)計(jì)公司的測試程序(常溫、高溫、低溫)和小批送樣的驗(yàn)證工作。
用于實(shí)驗(yàn)室環(huán)境的IC測試分類,具備體積小,集成化高等特征。兼容ATE測試機(jī)與SLT測試板設(shè)計(jì),最多支持2工位同測,支持常溫、高溫、低溫測試要求。